مقدمة إلى نظام التركيز الديناميكي ثلاثي الأبعاد
عملية إنتاج الوسم بالليزر هي تقنية جديدة مستخدمة على نطاق واسع. يستخدم شعاع ليزر مع كثافة طاقة مناسبة ومتقاربة على سطح قطعة العمل لمسح السطح المستهدف لإحداث تغييرات فيزيائية أو كيميائية في المادة وتشكيل آثار على السطح لتشكيل علامة. معالجة. تتميز بمزايا نطاق التطبيق الواسع وسرعة الوسم السريعة والأداء المستقر والجودة العالية وتكلفة التشغيل المنخفضة والتلوث البيئي المنخفض والتحكم السهل في الكمبيوتر. لقد أصبح أحد مجالات تطبيق الليزر المهمة.
آلة الوسم بالليزر الخضراء في الصين
تعمل تقنية الوسم بالليزر لمسح الجلفانومتر على تغيير اتجاه انتشار الليزر من خلال التحكم في زاوية الانحراف لاثنين من مقاييس الجلفانومتر عالي السرعة ، ثم التركيز على سطح قطعة العمل من خلال عدسة F-Theata لتمييز سطح قطعة العمل. بالمقارنة مع تقنية الوسم التقليدية ، فإن لديها مجموعة واسعة من التطبيقات (مناسبة لمعالجة الأسطح من مواد وأشكال مختلفة) ، ولا تشوه ميكانيكي لقطعة العمل ، ولا تلوث ، وسرعة تعليم سريعة ، وتكرار جيد ، ودرجة عالية من الأتمتة. لديها مجموعة واسعة من التطبيقات في العديد من المجالات مثل الدفاع الوطني والبحث العلمي.
تم تصميم رأس المسح البؤري الديناميكي لـ Xinte Optoelectronics خصيصًا للمسح بالليزر مع بقعة صغيرة ونطاق عمل كبير ومرونة عالية. أثناء عملية المسح ، يتم تشغيل العدسة المتباينة في الجهاز بواسطة محرك نسبة إلى عدسة التركيز لتحقيق المحور البصري. تحديد المواقع الديناميكي والدقيق. تعمل هذه العملية على تغيير الطول البؤري الكلي للنظام وتعمل بشكل متزامن مع عدسة انحراف المسح ، بحيث يمكن تمديد المسح ثنائي الأبعاد إلى نظام مسح ثلاثي الأبعاد. يمكن للجهاز أن يحل محل العدسات الموضوعية باهظة الثمن في تطبيقات المسح ثنائي الأبعاد ، ويمكنه أيضًا تنفيذ نظام مسح ضوئي لانحراف الحزمة ثلاثي الأبعاد. مناسب لليزر CO2 و YAG والألياف. الميزة الأبرز للتطبيقات الناضجة في العديد من الصناعات هي السرعة ، مما يحسن كفاءة مؤسسات المعالجة.
مزود نظام المسح الضوئي لأهداف ثاني أكسيد الكربون
من بين طرق الوسم المختلفة ، فإن وضع العلامات على الجلفانومتر له مجموعة واسعة من التطبيقات ، بما في ذلك علامات المتجهات وأحرف المصفوفة النقطية ، ونطاق العلامات قابل للتعديل وسرعة الوسم سريعة نسبيًا. لذلك ، أصبح الوسم السائد الحالي. تعتبر طريقة الوسم لتمثل اتجاه التطور المستقبلي للنقش بالليزر.